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标准型半导体检测 TBM-600
  • 标准型半导体检测 TBM-600

标准型半导体检测 TBM-600

型号:标准型半导体检测 TBM-600
价格:面议
主要特征:

目镜:10X φ18 物镜:5X 10X 20X 40X 光学放大:50X-400X

标准型半导体检测 TBM-600详细技术参数

一、仪器用途

 TBM-600 半导体检测仪是检测双极型晶体管的基区宽度,半导体晶片的直径、平整度、光洁度、表面污染、伤痕等,刻蚀图形的线条长、宽、直径间距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑必不可少的仪器。配备大视野目镜与偏光观察装置,透反射照明采用“柯勒”照明系统,视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器,广泛应用在工厂、实验室和教学及科研等领域。


二、产品特点

  采用无限远光学系统及模块化功能设计。长工作距离明,视场大而清晰。广角平场目镜:视场直径Ф22mm。粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。内置式可切换偏光观察装置,起偏器可360°旋转。上光源采用翻盖式12V50W卤素灯箱,更换灯炮安全便捷,下光源采用12V/30W卤素灯,加装散热片。三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可100%通光。


三、技术参数

1.目镜
类型放大倍数视场(mm)
平场目镜10Xφ18
2.物镜
类别放大倍数孔径数值工作距离(mm)
无限远长距平场消色差物镜5X0.129.7
10X0.259.3
20X0.407.2
40X0.603.0
3.光学放大倍数:50X  100X   200X  400X 
 4.三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换)
 5.双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)
 6.粗微动同轴调焦,  微动格值:2μm,带锁紧和限位装置
 7.照明系统:落射  6V 20W 卤素灯,亮度可调,带视场光栏、孔径光栏、起偏振片
  透射 6V 20W 卤素灯,亮度可调,内置视场光栏, 蓝滤色片和磨砂玻璃
 8.阿贝聚光镜NA.1.25可上下升降
 9.滤色片:(黄,蓝,绿,磨砂)


四、系统组成  

(TBM-600):1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集)


五、总放大参考倍数

TBM-600型:503500倍


六、选购件

1.目镜: 10X分划  2.物镜:50X 60X 80X  3.二维测量软件
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